高壓開關(guān)特性測(cè)試儀校驗(yàn)裝置下文中簡(jiǎn)稱校驗(yàn)裝置。
高壓開關(guān)特性測(cè)試儀下文中簡(jiǎn)稱測(cè)試儀。
現(xiàn)象：當(dāng)校驗(yàn)裝置的三相設(shè)置時(shí)間不同時(shí)，測(cè)試儀不能測(cè)試出不同期。
具體表現(xiàn)為：當(dāng)合閘時(shí)，A、B相為100毫秒，C相110毫秒，斷路器測(cè)試儀測(cè)試的數(shù)據(jù)均為100毫秒。但用不同組的計(jì)時(shí)通道測(cè)出的數(shù)據(jù)正確。
當(dāng)分閘時(shí)，A、B相為100毫秒，C相110毫秒，測(cè)試儀測(cè)試的數(shù)據(jù)均為110毫秒。但用不同組的計(jì)時(shí)通道測(cè)出的數(shù)據(jù)正確。
校驗(yàn)單位由此得出結(jié)論：測(cè)試儀不能正常測(cè)試高壓開關(guān)的不同期。
原理分析：真實(shí)的斷路器三相是完全電氣隔離的，這個(gè)是不用解釋的，不然就短路了。而校驗(yàn)裝置的每個(gè)斷口之間不一定是隔離的，可能有一個(gè)公共端或者經(jīng)過(guò)整流橋連接，只不過(guò)連接出了多個(gè)端子而已。校驗(yàn)裝置3個(gè)通道（可以有多個(gè)通道）的原理如下圖：
實(shí)際的斷路器三相之間是完全隔離的，模擬器可能沒(méi)有做到這一點(diǎn)，只是實(shí)現(xiàn)開關(guān)時(shí)間而已。測(cè)試儀不能測(cè)試同期的原因就是因?yàn)闇y(cè)試儀的三個(gè)測(cè)試通道是為測(cè)試開關(guān)準(zhǔn)備的，具有一個(gè)公共端，測(cè)試儀的時(shí)間通道內(nèi)部測(cè)試原理如下：
測(cè)試儀的每個(gè)計(jì)時(shí)通道組具有3個(gè)恒流源，并把恒流源的一端接到一起，形成公共端，公共端為電源的正極，另外的三個(gè)端點(diǎn)為每個(gè)測(cè)試斷口的負(fù)極。當(dāng)外部斷路器三相哪一相合閘時(shí)，哪一相就進(jìn)入恒流狀態(tài)，能夠測(cè)試出三相的分合閘時(shí)間，不同期等時(shí)間數(shù)據(jù)。能夠正確測(cè)試出真實(shí)斷路器的時(shí)間特性值。
經(jīng)過(guò)以上原理分析發(fā)現(xiàn)：測(cè)試儀測(cè)試真實(shí)斷路器是沒(méi)有任何問(wèn)題的；校驗(yàn)裝置也可以模擬真實(shí)斷路器的分合閘時(shí)間，只是沒(méi)有像真實(shí)斷路器那樣隔離。
本文開頭的現(xiàn)象是怎么發(fā)生的呢？
經(jīng)分析應(yīng)該是這樣的：接線時(shí)，將圖1中所示的模擬斷路器的1、5、9分別接到圖2中的A1、B1、C1上，將圖1中所示的模擬斷路器的2、6、10短接并接到測(cè)試儀的公共端，合閘時(shí)，當(dāng)校驗(yàn)裝置的三個(gè)斷口任何一個(gè)最早合閘，另外兩個(gè)斷口就會(huì)經(jīng)過(guò)整流橋和合閘的斷口，儀器上的三個(gè)測(cè)試斷口都會(huì)呈現(xiàn)合狀態(tài)。
具體分析如下：當(dāng)模擬斷口1最先合閘，也就是模擬器內(nèi)部開關(guān)1接通，公共端的正電壓通過(guò)圖1中的2端、經(jīng)過(guò)Q1整流橋的一個(gè)二極管和模擬器內(nèi)部開關(guān)1、Q1整流橋的另一個(gè)二極管和圖1中的1端、經(jīng)測(cè)試儀的測(cè)試斷口A1形成通路，測(cè)試儀的恒流源1恒流，測(cè)試儀就會(huì)測(cè)試到A1斷口為合閘狀態(tài)。于此同時(shí)，由于模擬器內(nèi)部開關(guān)的一端是接在一起的，公共端的正電壓通過(guò)圖1中2端經(jīng)過(guò)整流橋Q1的一個(gè)二極管和模擬器內(nèi)部開關(guān)1、模擬器內(nèi)部開關(guān)的短接線、經(jīng)整流橋Q2的一個(gè)二極管與圖1中的5端到測(cè)試儀的恒流源2，使恒流源2恒流，測(cè)試儀就會(huì)檢測(cè)到B1斷口為合閘狀態(tài)。同理C1斷口儀器也會(huì)檢測(cè)到合閘狀態(tài)。
當(dāng)分閘測(cè)試時(shí)會(huì)得到相反的結(jié)論。
致使校驗(yàn)人員得出測(cè)試儀不能測(cè)試斷路器同期時(shí)間的結(jié)論！
結(jié)論：圖1中原理的斷路器模擬器不能檢驗(yàn)圖2中斷口原理的測(cè)試儀的同期性，只能檢驗(yàn)每個(gè)斷口的測(cè)試數(shù)據(jù)正確。
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2013年1月15日修改
